SEM cu filament de tungsten | SEM3300
Microscop Electronic cu Scanare cu Filament de Tungsten și Rezoluție Ultra-Înaltă
Microscopul Electronic cu Scanare CIQTEK SEM3300 (SEM) integrează tehnologii precum optica electronică „Super-Tunnel”, detectoare de electroni în lentilă și lentile obiectiv compuse electrostatice și electromagnetice. Aplicând aceste tehnologii la microscopul cu filament de tungsten, se depășește limita de rezoluție de lungă durată a acestui tip de SEM, permițând microscopului SEM cu filament de tungsten să efectueze sarcini de analiză la tensiune joasă care anterior erau posibile doar cu SEM-uri cu emisie de câmp.
Depășirea limitei de rezoluție a SEM-urilor cu filament de Tungsten
Detector de electroni în lentilă
Lentilă obiectiv compusă electromagnetică și electrostatică
Mai sigur de utilizat
Extensibilitate excelentă
>> Detector de electroni în lentilă
Imagini ale diafragmei bateriei de litiu realizate la 1 kV cu o mărire de 20.000 de ori pe film, imagini realizate cu SEM3300.
Navigație Optică
Folosind o cameră montată vertical în cameră pentru a captura imagini optice pentru navigarea pe platforma probei, se permite o poziționare a probei mai intuitivă și mai precisă.
Funcții Automate
Funcții îmbunătățite de Luminozitate și Contrast Automate, Focalizare Automată și Corectare Automată a Astigmatismului. Capturarea imaginilor cu un singur clic!
- Focalizare Automată
- Corectare Automată a Astigmatismului
- Luminozitate și Contrast Automate
Mai sigur de utilizat
CCD Infrared
Monitorizarea în timp real a mișcărilor din interiorul camerei utilizând tehnologia de recunoaștere a imaginilor și captură a mișcărilor.
Anti-coliziune (Software)
Introduceți manual înălțimea probei pentru a defini cu precizie distanța dintre probă și lentila obiectiv, pentru a preveni coliziunile.
Anti-coliziune (Hardware)
Oprirea alimentării motorului platformei în momentul coliziunii pentru a minimiza daunele.
Înlocuirea Ușoară a Filamentului
Modul de filament de înlocuire pre-aliniat, gata de utilizare.
| Specificații ale microscopului SEM CIQTEK SEM3300 | ||||
| Optică electronică | Rezoluţie | 2,5 nm la 15 kV, SE 4 nm la 3 kV, SE 5 nm la 1 kV, SE |
||
| Tensiune de accelerare | 0,1 kV ~ 30 kV | |||
| Mărire (Polaroid) | 1 x ~ 300.000 x | |||
| Camera de specimene | Cameră | Navigație optică | ||
| Monitorizarea Camerei | ||||
| Tipul de scenă | Compatibil cu aspiratorul pe 5 axe, motorizat | |||
| Interval XY | 125 mm | |||
| Interval Z | 50 mm | |||
| Gama T | - 10° ~ 90° | |||
| Interval R | 360° | |||
| Detectoare SEM | Standard | Detector de electroni în lentilă (Inlens) Detector Everhart-Thornley (ETD) |
||
| Opțional | Detector retractabil de electroni retrodifuzați (BSED) Spectrometru de dispersie a energiei (EDS / EDX) Model de difracție a electronilor retrodifuzați (EBSD) |
|||
| Opțional | Loadlock pentru schimbul de specimene | |||
| Panou de control pentru trackball și butoane | ||||
| Interfață utilizator | Sistem de operare | Ferestre | ||
| Navigare | Navigație optică, navigare rapidă prin gesturi, trackball (opțional) | |||
| Funcții automate | Luminozitate și contrast automate, Focalizare automată, Stigmator automat | |||