SEM cu filament de tungsten | SEM3200
Microscop SEM cu Filament de Tungsten Universal și cu Performanțe Ridicate
Microscopul CIQTEK SEM3200 este un microscop electronic cu scanare (SEM) cu filament de tungsten, excelent pentru utilizare generală, având capabilități remarcabile pe ansamblu. Structura unică a tunului de electroni cu dublu anod asigură o rezoluție înaltă și îmbunătățește raportul semnal/zgomot al imaginii la tensiuni de excitație joase. În plus, oferă o gamă largă de accesorii opționale, ceea ce face din SEM3200 un instrument analitic versatil, cu o excelentă capacitate de extindere.
Performanță remarcabilă la tensiune joasă
Tun de electroni cu dublu anod
Mod de vid scăzut
Corectare a astigmatismului imaginii asistată de inteligență
Filament de tungsten pre-aliniat
Extensibilitate excelentă
Anod Intermitent
Anodul intermitent este amplasat între ansamblul catodului și anod. La tensiuni joase de excitație, eficiența de extracție a fasciculului de electroni poate fi îmbunătățită, rezoluția poate crește cu 10%, iar raportul semnal/zgomot poate fi îmbunătățit cu 30%.
Pentru probele din material carbonos, la tensiuni joase de excitație, adâncimea de penetrare a fasciculului este redusă, permițând captarea informațiilor reale despre morfologia suprafeței, cu detalii mai bogate ale probei.
Pentru probele din fibre polimerice, tensiunile mari de excitație provoacă deteriorarea probei, în timp ce fasciculul la tensiune joasă permite păstrarea detaliilor de suprafață fără a produce daune.
Mod SEM cu Vid Scăzut
Microscopul CIQTEK SEM3200 suportă două trepte de moduri de vid scăzut: o presiune în cameră de 5-180 Pa poate fi atinsă fără diafragmă de limitare a presiunii, iar 180-1000 Pa este realizabil cu PLA. Camera de vid a lentilei obiectiv, proiectată special, minimizează calea liberă medie a electronilor în condiții de vid scăzut și menține rezoluția la 3 nm @ 30 kV.
Fasciculul de electroni incident ionizează moleculele de aer de la suprafața probei, producând electroni și ioni, iar acești ioni neutralizează particulele încărcate generate pe suprafața probei, realizând astfel efectul de atenuare a încărcării.
Emisia de electroni secundari de la suprafața probei ionizează moleculele de aer, generând simultan electroni, ioni și semnale foto. Electronii generați ionizează apoi alte molecule de aer, iar un număr mare de semnale foto sunt produse și capturate ulterior de un Detector de Vid Scăzut (LVD).
În modul de vid înalt, LVD detectează direct semnalul de catodoluminescență emis de probă, care poate fi capturat pentru imagistica de catodoluminescență, cu imagistica simultană din canalul BSED.
Navigație Optică
Folosind o cameră montată vertical în cameră pentru a captura imagini optice pentru navigarea pe platforma probei, se permite o poziționare a probei mai intuitivă și mai precisă.
Corectare Inteligentă a Astigmatismului Imaginilor
În acest mod, valoarea astigmatismului pe axele X și Y variază în funcție de pixeli. Claritatea imaginii este maximă la valoarea optimă a astigmatismului, permițând ajustarea rapidă a stigmatizatorului.
Funcții Automate
Funcții îmbunătățite de Luminozitate și Contrast Automate, Focalizare Automată și Corectare Automată a Astigmatismului. Capturarea imaginilor cu un singur clic!
- Focalizare Automată
- Corectare Automată a Astigmatismului
- Luminozitate și Contrast Automate
Mai sigur de utilizat
CCD Infrared
Monitorizarea mișcărilor în timp real din interiorul camerei utilizând tehnologia de recunoaștere a imaginilor și captură a mișcărilor.
Anti-coliziune (Software)
Introduceți manual înălțimea probei pentru a defini cu precizie distanța dintre probă și lentila obiectiv, pentru a preveni coliziunile.
Anti-coliziune (Hardware)
Oprirea alimentării motorului platformei în momentul coliziunii pentru a minimiza daunele.
| Microscop SEM CIQTEK SEM3200 | ||||
| Optică electronică | Rezoluţie | 3 nm la 30 kV, SE 7 nm la 3 kV, SE 4 nm la 30 kV, BSE 3 nm la 30 kV, SE, 30 Pa |
||
| Tensiune de accelerare | 0,2 kV ~ 30 kV | |||
| Mărire (Polaroid) | 1 x ~ 300.000 x | |||
| Camera de specimene | Vid redus | 5 ~ 1000 Pa (Opțional) | ||
| Cameră | Navigație optică | |||
| Monitorizarea Camerei | ||||
| Tipul de scenă | Compatibil cu aspiratorul pe 5 axe, motorizat | |||
| Interval XY | 125 mm | |||
| Interval Z | 50 mm | |||
| Gama T | - 10° ~ 90° | |||
| Interval R | 360° | |||
| Detectoare SEM | Standard | Detector Everhart-Thornley (ETD) | ||
| Opțional | Detector retractabil de electroni retrodifuzați (BSED) Spectrometru de dispersie a energiei (EDS / EDX) Model de difracție a electronilor retrodifuzați (EBSD) |
|||
| Opțional | Loadlock pentru schimbul de specimene | |||
| Panou de control pentru trackball și butoane | ||||
| Interfață utilizator | Sistem de operare | Ferestre | ||
| Navigare | Navigație optică, navigare rapidă prin gesturi, trackball (opțional) | |||
| Funcții automate | Luminozitate și contrast automate, Focalizare automată, Stigmator automat | |||