FESEM | SEM4000X
Stabil, Versatil, Flexibil și Eficient
CIQTEK SEM4000X este un microscop electronic cu emisie de câmp (FE-SEM) stabil, versatil, flexibil și eficient. Acesta atinge o rezoluție de 1,9 nm @ 1,0 kV și abordează cu ușurință provocările imagisticii de înaltă rezoluție pentru diverse tipuri de probe. Poate fi actualizat cu un mod de decelerare a fasciculului ultra pentru a îmbunătăți și mai mult rezoluția la tensiune joasă.
Microscopul utilizează tehnologia multi-detectoare, cu un detector de electroni în coloană (UD) capabil să detecteze semnale SE și BSE, oferind în același timp performanță de înaltă rezoluție. Detectorul de electroni montat pe cameră (LD) încorporează scintilator de cristale și tuburi fotomultiplicatoare, oferind sensibilitate și eficiență mai mare, rezultând imagini stereoscopice de o calitate excelentă. Interfața grafică a utilizatorului este prietenoasă și include funcții de automatizare, cum ar fi reglajul automat al luminozității și contrastului, focalizare automată, stigmatizator automat și aliniere automată, permițând captarea rapidă a imaginilor ultra-înaltă rezoluție.
Rezoluție înaltă
Tehnologie multi-detectoare
Aliniere simplificată
Construit pe o platformă de nivel superior
Tehnologie Modul de Decelerare a Fasciculului Ultra
Extensibilitate excelentă
Optică electronică
| Specificații microscop CIQTEK SEM4000X FESEM | ||
| Optică electronică | Rezoluţie | 0,9 nm la 30 kV, SE 1,2 nm la 15 kV, SE 1,9 nm la 1 kV, SE 1,5 nm la 1 kV (Decelerare fascicul ultraviolet) 1 nm la 15 kV (Decelerare fascicul ultraviolet) |
| Tensiune de accelerare | 0,2 kV ~ 30 kV | |
| Mărire (Polaroid) | 1 ~ 1.000.000 x | |
| Tipul tunului electronic | Tun de electroni cu emisie de câmp Schottky | |
| Camera de specimene | Cameră | Camere duale (navigație optică + monitorizare cameră) |
| Gama de scenă |
X: 110 mm Y: 110 mm Z: 65 mm Temperatura: -10°~ +70° R: 360° |
|
| Detectoare SEM și extensii | Standard |
Detector de electroni în lentilă: UD-BSE/UD-SE Detector Everhart-Thornley: LD |
| Opțional |
Detector de electroni retrodifuzați (BSED) Detector retractabil de microscopie electronică cu transmisie și scanare (STEM) Detector de vid scăzut (LVD) Spectrometru de dispersie a energiei (EDS / EDX) Model de difracție prin retrodifuzie electronică (EBSD) Ecluză de schimb de probe (4 inch / 8 inch) Panou de control pentru trackball și butoane Tehnologie de mod de decelerare Ultra Beam |
|
| Interfață utilizator | Limbă | Engleză |
| Sistem de operare | Ferestre | |
| Navigare | Navigație optică, navigare rapidă prin gesturi, trackball (opțional) | |
| Funcții automate | Luminozitate și contrast automate, Focalizare automată, Stigmator automat | |