SEM cu filament de tungsten | SEM2100
Microscop Electronic cu Scanare cu Filament de Tungsten, Ușor de Utilizat și Compact
Microscopul CIQTEK SEM2100 SEM are un proces de operare simplificat și respectă standardele industriei și obiceiurile utilizatorilor în designul său de „Interfață cu utilizatorul”. În ciuda interfeței software minimalistă, oferă funcții automatizate complete, instrumente de măsurare și adnotare, capabilități de gestionare a post-procesării imaginilor, navigare prin imagini optice și altele. Designul SEM2100 realizează perfect ideea de „Simplitate fără a sacrifica funcționalitatea”.
Design intuitiv, clar și ușor de utilizat al interfeței cu utilizatorul (UI)
Funcții automate complete
Funcții integrate de post-procesare a imaginilor
Funcții integrate de post-procesare a imaginilor
Navigare standard a imaginii optice
Mai sigur de folosit
Navigație Optică
Folosind o cameră montată vertical în cameră pentru a captura imagini optice pentru navigarea pe platforma probei, se permite o poziționare mai intuitivă și mai precisă a probei.
Corectare Inteligentă a Astigmatismului Imaginilor
În acest mod, valoarea astigmatismului pe axele X și Y variază în funcție de pixeli. Claritatea imaginii este maximă la valoarea optimă a astigmatismului, permițând ajustarea rapidă a stigmatizatorului.
Funcții Automate
Funcții îmbunătățite de Luminozitate și Contrast Automate, Focalizare Automată și Corectare Automată a Astigmatismului. Capturarea imaginilor cu un singur clic!
- Focalizare Automată
- Corectare Automată a Astigmatismului
- Luminozitate și Contrast Automate
Mai sigur de utilizat
CCD Infraroșu
Monitorizare în timp real a mișcărilor din interiorul camerei, utilizând tehnologia de recunoaștere a imaginilor și captură a mișcării.
Anti-coliziune (Software)
Introduceți manual înălțimea probei pentru a defini cu precizie distanța dintre probă și lentila obiectiv, pentru a preveni coliziunile.
Anti-coliziune (Hardware)
Oprirea alimentării motorului platformei în momentul coliziunii pentru a minimiza daunele.
Înlocuire Ușoară a Filamentului
Modulul de filament de înlocuire este pre-aliniat și gata de utilizare.
| Microscop SEM CIQTEK SEM2100 | ||||
| Optică electronică | Rezoluţie | 3,9 nm la 20 kV, SE 4,5 nm la 20 kV, BSE |
||
| Tensiune de accelerare | 0,5 kV ~ 30 kV | |||
| Mărire (Polaroid) | 1 x ~ 300.000 x | |||
| Camera de specimene | Cameră | Navigație optică | ||
| Monitorizarea Camerei | ||||
| Tipul de scenă | Compatibil cu aspirator pe 3 axe, axa XYZ, motorizat | |||
| Interval XY | 125 mm | |||
| Interval Z | 50 mm | |||
| Detectoare SEM | Standard | Detector Everhart-Thornley (ETD) | ||
| Opțional | Detector retractabil de electroni retrodifuzați (BSED) Spectrometru de dispersie a energiei (EDS / EDX) Model de difracție a electronilor retrodifuzați (EBSD) |
|||
| Opțional | Loadlock pentru schimbul de specimene | |||
| Panou de control pentru trackball și butoane | ||||
| Interfață utilizator | Sistem de operare | Ferestre | ||
| Navigare | Navigație optică, navigare rapidă prin gesturi, trackball (opțional) | |||
| Funcții automate | Luminozitate și contrast automate, Focalizare automată, Stigmator automat | |||