FESEM | SEM5000Pro
Rezoluție înaltă sub excitație scăzută
CIQTEK SEM5000Pro este un microscop electronic cu scanare cu emisie de câmp Schottky de înaltă rezoluție (FE-SEM), specializat în rezoluție înaltă chiar și la tensiuni de excitație scăzute. Utilizarea unei tehnologii avansate de optică electronică „Super-Tunnel” facilitează o traiectorie a fasciculului fără crossover și un design al lentilei compuse electrostatic-electromagnetice.
Aceste progrese reduc efectul de încărcare spațială, minimizează aberațiile lentilelor, îmbunătățesc rezoluția imaginii la tensiune joasă și ating o rezoluție de 1,2 nm la 1 kV, ceea ce permite observarea directă a probelor neconductoare sau semiconductoare, reducând eficient deteriorarea probelor prin iradiere.
Joasă tensiune înaltă rezoluție
Stabilitate ridicată
Detector de electroni în lentilă
*Lacăt de încărcare pentru schimb de specimene
(compatibil cu 8 inci)
Devierea fasciculului electromagnetic cu Apertursofte cu mai multe găuri
Extensibilitate excelentă
★ Tehnologia coloanei optice electronice „Super Tunnel”/decelerarea fasciculului în lentilă
Reduce efectul de încărcare spațială, asigurând o rezoluție de tensiune scăzută.
★ Fără încrucișare pe calea fasciculului de electroni.
Reduce eficient aberațiile lentilei și îmbunătățește rezoluția.
★ Obiectiv compus electromagnetic și electrostatic.
Reduce aberațiile, îmbunătățește semnificativ rezoluția la tensiuni joase și permite observarea probelor magnetice.
★ Lentilă obiectiv răcită cu apă la temperatură constantă.
Asigură stabilitatea, fiabilitatea și repetabilitatea funcționării lentilei obiectiv.
★ Diafragmă variabilă cu mai multe orificii și sistem de deviere a fasciculului electromagnetic.
Comutare automată între diafragme fără mișcare mecanică, permițând comutarea rapidă între modurile de imagistică.
>> Imagini de înaltă rezoluție, de joasă tensiune
Imaginea detectorului de electroni în lentilă la o tensiune de excitație joasă de 200 V realizează o caracterizare morfologică nedistructivă a structurilor fibrelor membranei polimerice litiu-ion.
Structura porilor caracterizarii materialului mezoporos pe bază de silice SBA-15, imagine detectorului de electroni în lentilă la o tensiune joasă de 500 V fără acoperire conductivă (în mod de decelerare duală cu decelerare a fasciculului în lentilă + decelerare a fasciculului în tandem pe platforma probei).
>> Detector de electroni în lentilă / Specimen
Sita moleculară ZSM-8, un catalizator tipic în multiple domenii de cercetare de frontieră. Imagistica de joasă tensiune fără acoperire conductivă oferă o caracterizare directă a detaliilor de suprafață ale particulelor sitei moleculare.
>> Detector Everhart-Thornley (ETD)
Nano-folii ceramice BN, expun structura stratului sub o imagine ETD de joasă tensiune
>> Detector retractabil de electroni împrăștiați înapoi (BSED) *Opțional
Pulbere de aliaj cu entropie ridicată / 10 kV
Celule de țesut cerebral de șoarece / 10 kV
Incluziuni din oțel / 15 V
>> Mod ECCI bazat pe BSED (Imagistică cu contrast prin canalizare electronică)
„Efectul de canalizare a electronilor” se referă la o reducere semnificativă a împrăștierii electronilor de către rețelele cristaline, atunci când fasciculul de electroni incident satisface condiția de difracție Bragg, permițând unui număr mare de electroni să treacă prin rețea, prezentând astfel un efect de „canalizare”.
Pentru materialele policristaline cu compoziție uniformă și suprafețe plane lustruite, intensitatea electronilor retrodifuzați depinde de orientarea relativă dintre fasciculul de electroni incident și planurile cristaline. Granulele cu o variație mai mare a orientării prezintă semnale mai puternice, prin urmare, imagini mai luminoase, realizându-se o caracterizare calitativă cu o astfel de hartă a orientării granulelor.
Aliaje imprimate 3D (preparate prin lustruire cu fascicul de ioni)
Oțel inoxidabil (preparat cu lustruire cu fascicul de ioni)
>> Imagistică multicanal simultană prin intermediul mai multor detectoare
O rezoluție mare a fost obținută la caracteristicile topografice ale suprafeței cu imagistica cu detector de electroni în lentilă.
Imagini stereoscopice bune ale caracteristicilor morfologice cu imagistica cu detectorul Everhart-Thornley
Imagine cu contrast al numărului atomic (contrast Z) cu imagistică retractabilă cu detector de electroni împrăștiați înapoi
>> Detector retractabil pentru microscopie electronică de transmisie cu scanare (STEM)
>> Moduri multiple de operare: Imagistică în câmp luminos (BF), Imagistică în câmp întunecat (DF), Imagistică în câmp întunecat inelar cu unghi înalt (HAADF)
Imagistică în câmp luminos a secțiunilor de plante (STEM-BF)
Imagistică în câmp întunecat a secțiunilor de plante (STEM-DF)
Imagine cu contrast al numărului atomic (contrast Z) cu detector de electroni retractabil retrodifuzat
>> Progrese în microscopia electronică CIQTEK – Mai multe opțiuni
>> Spectrometrie de dispersie energetică
>> Catoluminescență
>> Catoluminescență
|
Specificații microscop CIQTEK FESEM SEM5000Pro |
||
| Optică electronică | Rezoluţie |
0,8 nm la 15 kV, SE 1,2 nm la 1,0 kV, SE |
| Tensiune de accelerare | 0,02 kV ~ 30 kV | |
| Mărire (Polaroid) | 1 ~ 2.500.000 x | |
| Tipul tunului electronic | Tun de electroni cu emisie de câmp Schottky | |
| Camera de specimene | Cameră | Camere duale (navigație optică + monitor cameră) |
| Gama de scenă |
X: 110 mm, Y: 110 mm, Z: 65 mm Temperatura: -10°～ +70°, R: 360° |
|
| Detectoare SEM și extensii | Standard |
Detector de electroni Inlens Detector Everhart-Thornley (ETD) |
| Opțional |
Detector de electroni retrodifuzați retractabil (BSED) Microscop electronic de transmisie cu scanare retractabil (STEM) Detector de vid scăzut (LVD) Spectroscopie de dispersie a energiei (EDS / EDX) Model de difracție prin retrodifuzie electronică (EBSD) Încuietoare de schimb de probe (4 inch / 8 inch) Panou de control pentru trackball și butoane |
|
| Software | Limbă | Engleză |
| Sistem de operare | Ferestre | |
| Navigare | Navigație optică, navigare rapidă prin gesturi, trackball (opțional) | |
| Funcții automate | Luminozitate și contrast automate, Focalizare automată, Stigmator automat | |